日本SAN-EI太陽(yáng)光模擬器作為光源，在某種意義上說(shuō)，可以等同于太陽(yáng)光源，可以模擬太陽(yáng)光照射。太陽(yáng)模擬器廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池特性測(cè)試，光電材料特性測(cè)試，生物化學(xué)相關(guān)測(cè)試，光學(xué)催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測(cè)，環(huán)境研究等。
判定日本SAN-EI 太陽(yáng)光模擬器光源質(zhì)量的三個(gè)重要指標(biāo)。
1. 光譜匹配度
光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個(gè)光譜范圍內(nèi)與真實(shí)太陽(yáng)光的匹配程度，用百分比來(lái)表示。根據(jù)數(shù)據(jù)的偏離情況對(duì)模擬器匹配程度的等級(jí)進(jìn)行劃分。
2. 輻照空間不均勻性
在測(cè)試區(qū)域的輻照度應(yīng)達(dá)到一定的均勻度要求。計(jì)算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。
光照均勻性是難達(dá)到和保持的一項(xiàng)指標(biāo)，工作面積上的強(qiáng)光點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致被測(cè)電池效率產(chǎn)生嚴(yán)重誤差，并導(dǎo)致電池分級(jí)錯(cuò)誤。均勻度*的模擬器就能將這種強(qiáng)光點(diǎn)對(duì)產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴(yán)格控制于≤2%。
3. 輻照時(shí)間不穩(wěn)定性
輻照穩(wěn)定性是AA*標(biāo)準(zhǔn)的第三項(xiàng)性能參數(shù)指標(biāo)，它要求模擬器的輸出光束長(zhǎng)時(shí)間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽(yáng)能電池效率測(cè)定的精確性。對(duì)于輻照不穩(wěn)定性，還細(xì)分為長(zhǎng)期不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI），分別對(duì)應(yīng)整個(gè)IV測(cè)試過(guò)程中輻照度的變化和取點(diǎn)過(guò)程中輻照度的變化。
