近期我司推出最新產(chǎn)品，kSA XRF在線X射線熒光膜厚測量儀！對于膜層厚度太薄的金屬薄膜和介電薄膜，光學方法測量其厚度顯得不是很可靠。kSA XRF在線X射線熒光膜厚測量儀的推出主要就是為了解決該問題，它可以在線測量許多不同材料基底（例如：玻璃和太陽能電池組件）上的薄膜厚度。
1.配備保護性定制框架外殼，放置 X 射線源和探測器。
2.該設備橋接了傳輸線，以便于設備安裝和工廠用戶對系統(tǒng)的訪問。
3.當 X 射線源正在使用時，會有警示燈閃爍提示。
4.配備面板的前/后邊緣光電檢測器，用于觸發(fā)設備自動啟停。
5.柜式控制器提供數(shù)據(jù)處理及存儲功能。
6.配備小型燈塔用于指示檢測情況。
1.某些超薄的介電薄膜，光學方法難以測量其厚度，如低于100nm厚度薄膜；在這種情況下，kSA XRF可以很好地測量。3.實時數(shù)據(jù)采集，檢測薄膜厚度缺陷并進行在線反饋。4.軟件功能可定制，用戶可以依據(jù)特定要求設置。5.檢測過程中可對質(zhì)量控制進行驗證，以確保涂層厚度在公差范圍內(nèi)。6.工廠集成功能：使工廠用戶能夠將設備整合到現(xiàn)有系統(tǒng)（如：工廠警報、PLC、電子郵件警報等）中。7.操作便捷，幾乎不需要額外設置，只需操作員定期進行設備校準。
1.該系統(tǒng)由一個帶有高壓發(fā)生器的 X 射線管和一個 X 射線探測器系統(tǒng)組成。2.其 X 射線檢測系統(tǒng)組合了固態(tài)探測器、放大器、脈沖高度分析儀和多通道分析儀。3.光譜儀能量校準后，系統(tǒng)自動識別 X 射線光譜峰值，并收集峰值強度以進行進一步處理。4.該工具可根據(jù)客戶的薄膜配方和測量需求測量對應的原子種類。
1.使用專有的 k-Space 軟件測量，分析和存儲數(shù)據(jù)。2.可與現(xiàn)有質(zhì)量控制系統(tǒng)對接通訊。3.利用光電檢測器的觸發(fā)器啟動和停止數(shù)據(jù)采集。7.單個檢測頭可以放置在面板寬度上的任何位置，并且可選配使用多個檢測頭。8.厚度測量范圍為 0~500 nm±1 nm，靈敏度和測量不確定度取決于被測元素。
