Phelos OLED光譜測量系統(tǒng)/角光譜分析儀 

Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同時(shí)也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系，計(jì)算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。

PL測量功能：有機(jī)、量子點(diǎn)、鈣鈦礦薄膜發(fā)射光譜和極化角度

EL測量功能：OLED、鈣鈦礦LED和其他發(fā)光器件

Setfos 模擬仿真軟件 

Setfos用于各種類型太陽能電池（包括鈣鈦礦、有機(jī)、疊層、硅基電池等）、鈣鈦礦LED、OLED器件及相關(guān)光電材料性能的仿真系統(tǒng)，對器件設(shè)計(jì)、構(gòu)建、光學(xué)性能、電學(xué)性能以及光電材料的性能進(jìn)行模擬計(jì)算和優(yōu)化。

四個(gè)模塊：吸收模塊、散射/進(jìn)階光學(xué)模塊、漂移擴(kuò)散模塊、光發(fā)射模塊

Paios 太陽能電池/OLED瞬態(tài)特性測試系統(tǒng)

Paios用于太陽能電池瞬態(tài)光電流譜TPC，瞬態(tài)光電壓譜TPV，光強(qiáng)相關(guān)性測試、深能級瞬態(tài)譜DLTS等進(jìn)行測量分析，全面深入的表征器件的載流子遷移率、載流子壽命和濃度、載流子動力學(xué)過程、摻雜和陷阱分布等性能參數(shù)，從而對太陽能電池/OLED器件和其他有機(jī)半導(dǎo)體中的載流子遷移率進(jìn)行全面有效的分析和測量。

Paios測試功能：

• 瞬態(tài)光電流譜TPC

• 瞬態(tài)光電壓譜TPV

• 開路電壓衰減OCVD

• 光強(qiáng)相關(guān)性測試、變光強(qiáng)J-V曲線，Isc-光強(qiáng)、Voc-光強(qiáng)，理想因子等

• 線性增壓載流子抽取Photo-CELIV、Dark-CELIV、Delaytime-CELIV等

• 電荷抽取CE

• 暗注入DIT

• 強(qiáng)度調(diào)制光電流譜IMPS

• 強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜IMVS

• 阻抗譜IS

• 電容電壓譜CV

• 深能級瞬態(tài)譜DLTS

• 瞬態(tài)電致發(fā)光譜TEL

• 電流-電壓-發(fā)光譜 J-V-L等

• 變溫測試臺：-120 °C to 150 °C